樣品晶粒尺寸及高度偏差對XRD的影響
摘要:樣品晶粒尺寸及樣品高度偏差對XRD測試結(jié)果存在極大影響.實驗結(jié)果表明,晶粒尺寸過大會導(dǎo)致異于標(biāo)準(zhǔn)卡片的衍射峰出現(xiàn),且衍射譜圖不具有重現(xiàn)性;樣品高度偏差則會導(dǎo)致衍射峰位移動,正高度偏差使衍射峰向高角度方向移動,負(fù)高度偏差使衍射峰向低角度方向移動,峰位移動量與高度偏差呈正比:△2θ=360cosθ/πR△h.樣品晶粒和高度偏差過大以致結(jié)果異常的情況應(yīng)視為制樣錯誤,
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