納米壓痕法表征BNT薄膜的壓電性能
摘要:利用有限元方法模擬了BNT薄膜/基底體系的納米壓痕過程,分析討論了BNT薄膜的壓電參數(shù)對加載的最大壓痕載荷、加載曲線指數(shù)的影響,用量綱分析結(jié)合有限元方法建立了壓痕的加載參數(shù)和BNT薄膜的壓電參數(shù)的無量綱關(guān)系.
注: 保護(hù)知識產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請聯(lián)系湘潭大學(xué)自然科學(xué)學(xué)報雜志社
摘要:利用有限元方法模擬了BNT薄膜/基底體系的納米壓痕過程,分析討論了BNT薄膜的壓電參數(shù)對加載的最大壓痕載荷、加載曲線指數(shù)的影響,用量綱分析結(jié)合有限元方法建立了壓痕的加載參數(shù)和BNT薄膜的壓電參數(shù)的無量綱關(guān)系.
注: 保護(hù)知識產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請聯(lián)系湘潭大學(xué)自然科學(xué)學(xué)報雜志社