基于掃描隧道顯微鏡的原位表征技術(shù)
摘要:掃描隧道顯微鏡(scanning tunneling microscope, STM)是研究表面原子結(jié)構(gòu)和表面電子態(tài)的強(qiáng)大工具,以STM為基礎(chǔ),作者發(fā)展了原位微區(qū)四探針電輸運(yùn)測(cè)量及交流互感抗磁測(cè)量系統(tǒng),并且保留STM原有功能不受影響。這樣,不僅能夠在極低溫、強(qiáng)磁場(chǎng)、超高真空的環(huán)境下用STM研究樣品表面的晶體結(jié)構(gòu)和電子態(tài),也可以用原位微區(qū)四探針電輸運(yùn)測(cè)量來研究樣品的輸運(yùn)特性,還可以用原位的交流互感抗磁測(cè)量來研究樣品的抗磁特性。通過把這些信息對(duì)比,可以更好地了解樣品物性與原子結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu)的關(guān)系,準(zhǔn)確地理解表面的物理性質(zhì)。這種聯(lián)合實(shí)驗(yàn)技術(shù)非常適合應(yīng)用于低維及界面超導(dǎo)研究。
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