粉末壓片法-X射線熒光光譜線性掃描在玻璃全分析中的應用
摘要：本文利用粉末壓片法制備出了滿足XRF測量的分析試樣，將X射線熒光光譜線性（EZ）掃描應用到了玻璃樣品的全分析中，結果表明，EZ掃描得到的結果，為采用常規化學分析方法進行玻璃全分析時制定實驗方案起到了重要的指導作用，從而大大的降低了試驗時間，提高了檢測效率。
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