單調(diào)集值測度空間中的Egoroff型定理及Riesz型定理
摘要:給出了單調(diào)集值測度的S*性質(zhì)、PS*性質(zhì)、Egoroff條件、條件M*等概念,研究了它們之間的關(guān)系。在此基礎(chǔ)上,給出了單調(diào)集值測度空間中Egoroff型定理和兩類Riesz型定理成立的等價條件。
注: 保護(hù)知識產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請聯(lián)系蘇州科技大學(xué)學(xué)報雜志社
摘要:給出了單調(diào)集值測度的S*性質(zhì)、PS*性質(zhì)、Egoroff條件、條件M*等概念,研究了它們之間的關(guān)系。在此基礎(chǔ)上,給出了單調(diào)集值測度空間中Egoroff型定理和兩類Riesz型定理成立的等價條件。
注: 保護(hù)知識產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請聯(lián)系蘇州科技大學(xué)學(xué)報雜志社