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一種提取頻高圖中O波描跡新方法

胡輝; 周晨; 姜春華; 楊國斌; 趙正予 武漢大學(xué)電子信息學(xué)院; 武漢430072

摘要：垂測儀是研究電離層中最常用的儀器之一,目前各國在世界范圍內(nèi)布設(shè)了大量的垂測儀來對電離層進行常規(guī)觀測.而這些垂測儀每天都會記錄大量的頻高圖數(shù)據(jù),因此自動度量頻高圖算法的研究則成為如何高效利用大量頻高圖數(shù)據(jù)來研究電離層的重要基礎(chǔ).由于頻高圖中O波描跡的提取,對于研究不同電離層高度反射回波的擾動特征具有重要的意義,因此本文提出一種新方法用于從頻高圖中自動提取O波描跡.該方法基于滑動窗口和圖像投影技術(shù),首先確定O波和X波描跡的交叉點,然后在此基礎(chǔ)上利用O波X波在頻高圖中的不同分布特征,單獨提取出O波描跡,并利用局部加權(quán)回歸算法對提取的描跡進行擬合.通過云南普洱站記錄的頻高圖數(shù)據(jù)對該算法進行驗證,將自動提取的描跡與人工提取的描跡進行對比,可接受的比例大約85.3%.對比結(jié)果表明本文提出的算法能夠較好的提取頻高圖中的O波描跡.

注: 保護知識產(chǎn)權(quán),如需閱讀全文請聯(lián)系地球物理學(xué)進展雜志社