大范圍二維納米位移臺(tái)的控制及非線性校準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)研究
摘要:搭建了基于激光干涉儀測(cè)量原理的三軸微位移測(cè)量系統(tǒng),對(duì)大范圍二維納米位移臺(tái)的控制及非線性校準(zhǔn)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究。介紹了雙頻激光干涉儀測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)成;編寫了納米位移臺(tái)的控制程序和激光干涉儀數(shù)據(jù)采集程序;闡述了位移臺(tái)的非線性校準(zhǔn)方法,并通過實(shí)驗(yàn)對(duì)比了多項(xiàng)式三階擬合和三階分段擬合的差別,驗(yàn)證了校準(zhǔn)方法的準(zhǔn)確性。實(shí)驗(yàn)表明:使用三階分段擬合的校準(zhǔn)方法效果更好,校準(zhǔn)前,x軸的最大非線性誤差為4.052μm,y軸的最大非線性誤差為2.927μm;校準(zhǔn)后,x軸的最大非線性誤差為15nm,y軸的最大非線性誤差為17nm,僅為原始非線性誤差的1%。
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