基于雙D型光纖表面等離子共振折射率傳感研究
摘要：以雙D型光纖作為傳輸載體,研究了一種基于表面等離子共振技術的雙D型光纖折射率傳感器。利用時域有限差分法,分析了雙D型光纖剩余包層厚度、金膜厚度、金膜表面粗糙度以及雙通道傳輸對光纖SPR傳感器性能的影響。仿真結果表明,當剩余包層厚度為300~500nm、覆蓋的金膜厚度為50nm時,雙D型光纖SPR傳感器的性能得到優化;金膜表面粗糙度也是影響傳感器性能的重要因素,當金膜表面粗糙度的均方根值低于2nm或其相關長度大于160nm時,金膜表面粗糙度對傳感器性能的影響顯著減小,且在折射率為1.33~1.36的傳感環境下具有較好的線性度;在雙D型光纖兩側覆不同的金屬膜,可以實現信號的雙通道測量。
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